Con una tecnología de detección de vanguardia basada en detectores de semiconductores desarrollados especialmente para espectroscopia de emisión, el espectrómetro de emisión de chispa VeOS de OBLF permite el análisis versátil, flexible y rápido de todos los materiales metálicos comunes. El espectro analítico también incluye el análisis preciso de elementos de longitud de onda corta como nitrógeno o bajo contenido de carbono.