El espectrómetro de emisión de chispa OBLF MVS 1000 permite un análisis versátil, flexible y rápido de todos los materiales metálicos comunes. Equipado con tecnología de detección de vanguardia, el analizador de metales permite la determinación precisa de la composición del material a un precio atractivo para el dispositivo. El espectro analítico también incluye el análisis preciso de elementos de longitud de onda corta como el fósforo o el azufre.

El GS 1000-II, el miembro más pequeño de la familia OBLF, es un espectrómetro de emisión de chispa de matriz única para todas las aplicaciones estándar. Gracias a su construcción compacta y sólida, así como a su operación simple, es ideal para uso en entornos de producción como fundiciones, pero también para el control de bienes y materiales entrantes. Para garantizar la independencia de las condiciones externas que rodean al espectrómetro, los detectores (fotomultiplicadores) y el sistema de integración se encuentran en la óptica de vacío estabilizada por temperatura. La capacidad analítica cubre el análisis preciso de elementos de onda corta como carbono, fósforo, azufre y nitrógeno en acero o hierro fundido y fósforo en aluminio

Con una tecnología de detección de vanguardia basada en detectores de semiconductores desarrollados especialmente para espectroscopia de emisión, el espectrómetro de emisión de chispa VeOS de OBLF permite el análisis versátil, flexible y rápido de todos los materiales metálicos comunes. El espectro analítico también incluye el análisis preciso de elementos de longitud de onda corta como nitrógeno o bajo contenido de carbono.

Nuestro espectrómetro de emisión de chispa QSG 750-II también se puede llamar el modelo estrella de OBLF. Este modelo de matriz única o múltiple es ideal para todas las aplicaciones que requieren los límites de detección más bajos posibles, el grado más alto de reproducibilidad e información metalúrgica adicional sobre el analito. El espectro de aplicaciones va desde los productores primarios como las acerías u otras fundiciones hasta las empresas de procesamiento de metales hasta los institutos de investigación y las universidades.

A primera vista, el QSG 750-II es comparable con el modelo QSN 750-II. La principal diferencia radica en el sistema de registro de datos, que se basa en la tecnología GISS (Gated Integration of Single Sparks) desarrollada por OBLF. Dadas las mismas dimensiones, también está equipado con componentes de hardware probados y probados, como la óptica de vacío de 750 mm estabilizada por temperatura, la tecnología Gated Digital Source (GDS) con parámetros libremente definibles y el soporte de chispa autolimpiante patentado. Un filtro de escape asegura que el argón consumido sea purgado. La fácil accesibilidad de todas las partes clave del dispositivo simplifica las tareas de servicio que debe realizar el usuario.

 Nuestro modelo QSN 750-II es un espectrómetro de emisión de chispa que se puede usar como sistema de matriz única o múltiple gracias a sus ópticas de vacío de 750 mm. Esto da como resultado un amplio campo de aplicación, que no solo cubre toda la gama de empresas de producción y procesamiento de metal, sino que también incluye un amplio espectro de opciones para probadores de material e institutos de prueba. Tanto el sistema de integración como los fotomultiplicadores, que están dispuestos de acuerdo con las especificaciones del cliente, se encuentran dentro de la óptica y, por lo tanto, están protegidos contra influencias externas. La óptica de temperatura estabilizada y la tecnología Gated Digital Source (GDS) garantizan un alto grado de reproducibilidad de la señal y, por lo tanto, constancia analítica. El soporte de chispas y la ventana de apertura patentados, autolimpiables y de fácil acceso, permiten un mantenimiento sin problemas por parte del usuario. Un filtro de escape asegura que el argón consumido sea purgado.